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半导体晶片红外测定仪PCB抄板及IC解密技术

更新时间:2010年03月10日

     帕特农专注于反向技术研究领域近二十年,以狼性的技术研究能力在业界著称,现已成功破解了数万件设备的技术密码并实现了二次开发,现已投入第一线使用的设备性能良好,仿真度高,受到了客户的普遍好评。此案例是帕特农的成功案例之一,现将有关功能特点详细介绍如下:
 半导体晶片红外测定仪技术参数

半导体晶片红外测定仪PCB抄板及IC解密技术
  光谱范围,cm-1 400-7800
  光谱分辨率, cm-1 1
  样品中光斑直径, mm 6
  最大的晶圆直径, mm 200
  分析台定位精度, mm               0.5
  单点标准分析时间, sec          20
  仪器尺寸, mm               670x650x250
  仪器重量, kg               37
  帕特农专业提供抄板设计、样机制作与测试、芯片解密、二次开发、PCB抄板OEM代工等全套服务,如果您想拥有一套既价格优惠又质量保证的先进设备,那就与帕特农合作吧,帕特农保证给您仿制一套与原装设备效果一样的设备,有意者请与帕特农商务中心联系!