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X荧光钙铁分析仪电路板抄板及芯片解密技术

更新时间:2010年03月16日

   X荧光钙铁分析仪电路板抄板及芯片解密技术帕特农专注于反向技术研究领域近二十年,以狼性的技术研究能力在业界著称,现已成功破解了数万件设备的技术密码并实现了二次开发,现已投入第一线使用的设备性能良好,仿真度高,受到了客户的普遍好评。此案例是帕特农的成功案例之一,现将有关功能特点详细介绍如下:
  X荧光钙铁分析仪技术参数
  1. 分析范围: CaO、Fe2O3分析范围均可调节,通过标定工作曲线的方法选定。
  2. 分析范围宽度: CaO%max-CaO%min≤7% Fe2O3 % max-Fe2O3 % min≤5%;
  例如生料:CaO:39%~46%,Fe2O3:0.01~5%。
  3. 固有误差: CaO:±0.18%,Fe2O3:±0.10%。
  4. 系统分析时间: 15×n秒(n为自然数),推荐值为30秒。
  5. 分析精度: SCaO≤0.09%,S Fe2O3≤0.05%。
  6. 温度稳定性: 在5~+40℃范围内,绝对漂移:∣△CaO%∣≤0.18%,∣△Fe2O3%∣≤0.10%。
  7. 使用条件: 环境温度:5~+40℃,相对湿度:≤85%(30℃),供电电源:220V±20V,50Hz。
  8. 整机功耗: <50W。
  9. 尺寸及重量: 470mm×365mm×130mm,15kg。
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